调光曲线测试方法及设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202011564417.2
IPC分类号：G01J1/00
申请日期：
2020-12-25
申请人：
广州市雅江光电设备有限公司

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著录项信息

专利名称	调光曲线测试方法及设备
申请号	CN202011564417.2	申请日期	2020-12-25
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-07	公开/公告号	CN112763059A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;0查看分类表>
申请人	广州市雅江光电设备有限公司	申请人地址	广东省广州市花都区花山镇华辉路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广州市雅江光电设备有限公司	当前权利人	广州市雅江光电设备有限公司
发明人	黄荣丰;陈志曼;王国海
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	颜希文;郝传鑫

摘要

本发明提供一种调光曲线测试方法及设备，该方法包括测试灰度从90到255之间的亮度数据，获取高亮度调光曲线；测试灰度从1到90之间的亮度数据，获取低亮度调光曲线；计算灰度90的亮度比，将低亮度调光曲线乘亮度比，获取校正低亮度调光曲线；拟合高亮度调光曲线和校正低亮度调光曲线确定调光曲线。本发明通过测量高亮度调光曲线和低亮度调光曲线，并将低亮度调光曲线按比例缩放，从而获取精准的调光曲线。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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