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一种防紫外线性能测试仪

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200320108815.9
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2003-10-13
  • 申请人:
    金尚忠;朱桂棋;王东辉;张正潮;陈建华;郑晓明
著录项信息
专利名称一种防紫外线性能测试仪
申请号CN200320108815.9申请日期2003-10-13
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人金尚忠;朱桂棋;王东辉;张正潮;陈建华;郑晓明申请人地址
浙江省杭州市长明寺巷2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人金尚忠,朱桂棋,王东辉,张正潮,陈建华,郑晓明当前权利人金尚忠,朱桂棋,王东辉,张正潮,陈建华,郑晓明
发明人金尚忠;朱桂棋;王东辉;张正潮;陈建华;郑晓明
代理机构杭州九洲专利事务所有限公司代理人韩小燕;王洪新
摘要
本实用新型涉及一种防紫外线性能测试仪。本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种防紫外线性能测试仪的改进,该种仪器应具有使用方便及成本低的特点。解决该问题的技术方案是:一种防紫外线性能测试仪,包括微机和一密闭箱体,箱体内紫外光源、滤光片及积分球从上至下对应布置,积分球分两路输出信号,一路经参考探测器、放大电路和光电转换器输入微机,另一路经分光系统、信号探测器、放大电路和光电转换器输入微机,箱体内还装有电源。所述的滤光片与积分球之间装有抽屉式试样架。所述的抽屉式试样架包括一个可在箱体导轨上移动的滑块,一形状如圆环片的试样压块,以及一连接所述的滑块和试样压块的试样座。

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