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一种激光选区熔化加工过程同轴监测装置

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201720392724.4
  • IPC分类号:B22F3/105;G01B11/24;B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y50/02
  • 申请日期:
    2017-04-14
  • 申请人:
    华南理工大学
著录项信息
专利名称一种激光选区熔化加工过程同轴监测装置
申请号CN201720392724.4申请日期2017-04-14
法律状态放弃专利权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B22F3/105IPC分类号B;2;2;F;3;/;1;0;5;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;B;3;3;Y;1;0;/;0;0;;;B;3;3;Y;3;0;/;0;0;;;B;3;3;Y;5;0;/;0;2查看分类表>
申请人华南理工大学申请人地址
广东省广州市天河区五山路381号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华南理工大学当前权利人华南理工大学
发明人王迪;王艺锰;杨永强;付凡;宋长辉;李阳
代理机构广州市华学知识产权代理有限公司代理人蔡克永
摘要
本实用新型公开了一种激光选区熔化加工过程同轴监测装置;包括光路模块、光电二极管模块、二极管控制器、激光头、COMS高速摄像机、摄像机控制器、计算机。光路模块的扫描振镜控制激光束选择性地熔化工作台基板上金属粉末,在激光选区熔化过程中将熔池辐射反射入COMS高速摄像机3和光电二极管;COMS高速摄像机和光电二极管模用于处理熔池辐射数据,转化为图像信息传至对应控制器;摄像机控制器用于处理图像数据,转化为反馈信息控制激光器;二极管控制器对光信号进行处理,免受外界电磁场干扰,适合于采集;在激光选区熔化过程中结合使用COMS高速摄像机和光电二极管的同轴监测方法有利于获得高的局部分辨率和快速扫描率。

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