针对分析物检测封装的焦点调节

发明专利有效专利

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	针对分析物检测封装的焦点调节
申请号	CN201680080549.3	申请日期	2016-01-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-10-23	公开/公告号	CN108700464A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/44 喇曼光谱法；散射光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;4;;;G;0;1;N;2;1;/;6;5查看分类表>
申请人	惠普发展公司,有限责任合伙企业	申请人地址	美国德克萨斯州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	惠普发展公司,有限责任合伙企业	当前权利人	惠普发展公司,有限责任合伙企业
发明人	A·罗加奇;V·什克尔尼科夫;葛宁
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	周学斌;陈岚

摘要

一种分析物检测系统，包括：要被呈现给读取设备的分析物检测封装，以及用以相对于读取设备来调节分析物检测封装的焦点的聚焦机构，其中分析物检测封装包括表面增强发光分析物载台，读取设备包括用以接收从分析物载台散射的辐射或发射的发光的光学器件，以及聚焦机构用以相对于光学器件来调节焦点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供