一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610859483.X
IPC分类号：G01J1/02;G01J1/42;G01J3/28
申请日期：
2016-09-29
申请人：
北京市计量检测科学研究院

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著录项信息

专利名称	一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法
申请号	CN201610859483.X	申请日期	2016-09-29
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-02-15	公开/公告号	CN106404168A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;2;;;G;0;1;J;1;/;4;2;;;G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人	北京市计量检测科学研究院	申请人地址	北京市朝阳区安苑东里一区12号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京市计量检测科学研究院	当前权利人	北京市计量检测科学研究院
发明人	贾亚青;陈赤;孙向林;张建亮;崔磊
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本专利公开了一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法。通过测量功率计某一波长下的修正系数，并结合测量功率计探测器光谱相应曲线，来获得不同波长下功率计的修正系数，使其能用于其相应范围内各种波长激光的功率准确测量。本发明的有益效果是：该项目研究成果为激光功率计使用单位提供一种获得不同光源下修正系数的方法，减少其在不同波长下的校准工作量，降低校准成本；避免了只能用于被校准波长的局限性，扩大激光功率计精准测量的工作范围；弥补了校准用激光源个数有限的不足，为新型波长激光源的准确测量提供了可能性，在激光功率精准测量领域具有重要意义。

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