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图像坏点簇校正方法、计算机装置及计算机可读存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110059648.6
  • IPC分类号:H04N5/357;H04N5/367;H04N5/217
  • 申请日期:
    2021-01-18
  • 申请人:
    珠海全志科技股份有限公司
著录项信息
专利名称图像坏点簇校正方法、计算机装置及计算机可读存储介质
申请号CN202110059648.6申请日期2021-01-18
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-06-04公开/公告号CN112911174A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04N5/357IPC分类号H;0;4;N;5;/;3;5;7;;;H;0;4;N;5;/;3;6;7;;;H;0;4;N;5;/;2;1;7查看分类表>
申请人珠海全志科技股份有限公司申请人地址
广东省珠海市高新区唐家湾镇科技二路9号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人珠海全志科技股份有限公司当前权利人珠海全志科技股份有限公司
发明人刘辉;钟午
代理机构珠海智专专利商标代理有限公司代理人林永协
摘要
本发明提供一种图像坏点簇校正方法、计算机装置及计算机可读存储介质,该方法包括获取初始图像,对初始图像中像素点进行坏点检测,如确定像素点为坏点,则对坏点进行校正计算,获得坏点的校正值;对像素点进行坏点检测包括:获取以待检测像素点为中心的第一邻域,提取第一邻域中同一颜色通道的第一像素矩阵,并剔除第一像素矩阵中预设数量的极值像素点后,计算剩余像素点的中值、待检测像素点与中值的绝对差值、待检测像素点与剩余像素点的加权平均值,根据该中值、绝对差值以及加权平均值判断待检测像素点是否为坏点。本发明还提供实现上述方法的计算机装置及计算机可读存储介质。本发明能够准确、高效的对图像中的坏点簇进行检测与校正。

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