一种透射电镜双倾原位纳米压痕平台

发明专利有效专利

申请号：
CN201510629763.7
IPC分类号：G01N23/04
申请日期：
2015-09-28
申请人：
北京工业大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种透射电镜双倾原位纳米压痕平台
申请号	CN201510629763.7	申请日期	2015-09-28
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2016-01-06	公开/公告号	CN105223213A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号33幢A单元3层302-1室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	百实创(北京)科技有限公司	当前权利人	百实创(北京)科技有限公司
发明人	韩晓东;李志鹏;毛圣成;王晓冬;庄春强;张剑飞;邓青松;翟亚迪;张韬楠;张泽
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	刘萍

摘要

一种透射电镜双倾原位纳米压痕平台属于纳米材料力学性能‑显微结构原位表征领域。该平台主要由粘接区、支撑梁、承载梁、样品载台与微型压头组成，整体结构通过半导体微细加工技术制备。原位纳米压痕实验可采用热双金属片、V型电热梁、压电、静电、电磁、记忆合金等方式进行驱动，样品通过聚焦离子束块体取样技术获得。该一体化平台可置于透射电镜(TEM)样品杆前端的狭小空间内，在双轴倾转条件下，驱动装置驱动微型压头，在透射电镜中对材料进行原位纳米压痕、原位压缩和原位弯曲等实验。可以在亚埃、原子和纳米尺度下对材料的变形过程进行原位观察，研究其变形机制，揭示其显微结构与力学性能的关系。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供