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基于与门反相器图的网表级电路面积优化方法及存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011475649.0
  • IPC分类号:G06F30/323
  • 申请日期:
    2020-12-15
  • 申请人:
    西安国微半导体有限公司
著录项信息
专利名称基于与门反相器图的网表级电路面积优化方法及存储介质
申请号CN202011475649.0申请日期2020-12-15
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-04-30公开/公告号CN112733474A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F30/323IPC分类号G;0;6;F;3;0;/;3;2;3查看分类表>
申请人西安国微半导体有限公司申请人地址
陕西省西安市高新区丈八街办科技二路72号西安软件园零壹广场10901室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安国微半导体有限公司当前权利人西安国微半导体有限公司
发明人屈展
代理机构西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙)代理人李园园
摘要
本发明公开了一种基于与门反相器图的网表级电路面积优化方法及存储介质,优化方法包括:步骤1、获取第一网表级电路文件;步骤2、根据第一网表级电路文件按照预设顺序得到若干第一节点和各个第一节点之间的连接关系;步骤3、基于预设顺序将第一节点对应创建为与门/反相器图的第二节点,且当第二节点存在局部子结构时,利用散列查找方法在散列表中查找局部子结构的同构结构,以得到第二节点的创建结果;步骤4、基于预设顺序,按照步骤3的方法处理下一个第一节点,直至处理完成所有第一节点,得到最终的与门/反相器图。本发明的优化方法能够去除冗余的电路结构,从而达到减少电路结构冗余,达到电路结构面积减小的目的,最终使得内存减少。

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