基于光纤延时自外差法的测量窄线宽激光器线宽装置及其测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710178384.6
IPC分类号：G01B11/02
申请日期：
2007-11-29
申请人：
北京航空航天大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于光纤延时自外差法的测量窄线宽激光器线宽装置及其测量方法
申请号	CN200710178384.6	申请日期	2007-11-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-06-18	公开/公告号	CN101201243
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	欧攀;贾豫东;张春熹;冯迪;胡姝玲;曹彬
代理机构	北京永创新实专利事务所	代理人	周长琪

摘要

本发明公开了一种基于光纤延时自外差法的测量窄线宽激光器线宽装置及其线宽测量方法，硬件装置上通过在第一、第二耦合器之间连接一光纤延时线、以及在第一、第二耦合器之间连接一声光调制器，被测激光器连接在第一耦合器的输入端上，光电探测器连接在第二耦合器的输出端上，光电探测器与频谱分析仪连接。在线宽测量上利用移频延时自外差法原理建立激光器线宽Δν与光电流外差信号谱宽Δf的仿真模型，以及利用三阶比例函数模型拟合获得激光器线宽Δν与光电流外差信号谱宽Δf的函数关系，本发明提出了采用短光纤延时自外差法，可以在延时光纤长度远小于6倍的激光器相干长度时，消除延时自外差法因为延时时间不够导致测量精度的大幅度下降这一缺陷，为工程上实现精确测量窄线宽激光器线宽提供了行之有效的方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供