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阵列基板检测装置和检测方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410091938.5
  • IPC分类号:G01R31/02;G01R31/00
  • 申请日期:
    2004-12-28
  • 申请人:
    鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司
著录项信息
专利名称阵列基板检测装置和检测方法
申请号CN200410091938.5申请日期2004-12-28
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-07-05公开/公告号CN1797016
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/02IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;0;2;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司申请人地址
广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人鸿富锦精密工业(深圳)有限公司,群创光电股份有限公司当前权利人鸿富锦精密工业(深圳)有限公司,群创光电股份有限公司
发明人林至成;吴泽
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明公开了一种阵列基板检测装置和检测方法。该阵列基板检测装置包括一光源、一可控制光通过与否的光电元件、一位于该光电元件一侧的光侦测器和一与该光侦测器连接的计算器系统,待测阵列基板设置在光电元件与光源之间。采用该阵列基板检测装置和检测方法首先获得该阵列基板的影像数据,然后将该影像数据与计算器系统中预存的影像数据比较以确定该基板是否有缺陷并对缺陷位置准确定位,从而可提高检测效率。

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