阵列基板检测装置和检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410091938.5
IPC分类号：G01R31/02;G01R31/00
申请日期：
2004-12-28
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司

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著录项信息

专利名称	阵列基板检测装置和检测方法
申请号	CN200410091938.5	申请日期	2004-12-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-07-05	公开/公告号	CN1797016
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/02 对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;2;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,群创光电股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,群创光电股份有限公司
发明人	林至成;吴泽
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种阵列基板检测装置和检测方法。该阵列基板检测装置包括一光源、一可控制光通过与否的光电元件、一位于该光电元件一侧的光侦测器和一与该光侦测器连接的计算器系统，待测阵列基板设置在光电元件与光源之间。采用该阵列基板检测装置和检测方法首先获得该阵列基板的影像数据，然后将该影像数据与计算器系统中预存的影像数据比较以确定该基板是否有缺陷并对缺陷位置准确定位，从而可提高检测效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN1438521A	2003-08-27	2003-02-09	电光装置、电子设备和电光装置的制造方法失效专利	精工爱普生株式会社
2	CN1469174A	2004-01-21	2003-05-30	具有滤色器阵列衬底的液晶显示器件及其制造方法失效专利	LG.菲利浦LCD株式会社
3	CN2800286Y	暂无	2004-12-28	阵列基板检测装置失效专利	鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司
4	US5459409A	暂无	1991-09-10	Testing device for liquid crystal display base plate失效专利	Francois J. Henley

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN103064206B	2013-01-08	2013-01-08	玻璃基板的缺陷检测方法有效专利	深圳市华星光电技术有限公司
2	CN103064206A	2013-01-08	2013-01-08	玻璃基板的缺陷检测方法有效专利	深圳市华星光电技术有限公司

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