一种测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202123324007.3
IPC分类号：G01R1/04
申请日期：
2021-12-27
申请人：
航天科工防御技术研究试验中心

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著录项信息

专利名称	一种测试装置
申请号	CN202123324007.3	申请日期	2021-12-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	航天科工防御技术研究试验中心	申请人地址	北京市海淀区永定路50号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	航天科工防御技术研究试验中心	当前权利人	航天科工防御技术研究试验中心
发明人	李静;肖苗苗;马帅帅;高鹏鹏
代理机构	北京风雅颂专利代理有限公司	代理人	孙晓凤

摘要

本公开提供了一种测试装置，用以测试待测件，包括测试电路板及压紧机构，所述压紧机构包括底座、上盖及调压部件，所述上盖位于所述底座上，测试电路板设置在所述底座上并位于所述底座与所述上盖之间，所述调压部件包括安装座、调压杆和调压旋钮；待测件安装在所述测试电路板上，所述调压旋钮与所述上盖的上表面抵接并对所述上盖的上表面施加压力，所述上盖的下表面对所述待测件施加压力。本公开提供的测试装置，代替人工对待测件施压，确保待测件与测试电路板紧密连接，从而提高测试稳定性、准确性和测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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