干涉成像光谱仪及干涉仪

发明专利有效专利

申请号：
CN201610481840.3
IPC分类号：G01J3/45;G01B9/02
申请日期：
2016-06-27
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	干涉成像光谱仪及干涉仪
申请号	CN201610481840.3	申请日期	2016-06-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-10-26	公开/公告号	CN106052874A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/45 干涉光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;5;;;G;0;1;B;9;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人	白清兰;李立波;冯玉涛;邹纯博;孙剑;刘欢;李芸;闫鹏;胡炳墚
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	苏蓓

摘要

本发明公开了一种干涉成像光谱仪及干涉仪，干涉成像光谱仪包括前置成像物镜、干涉仪、成像耦合镜和光电探测器；所述干涉仪包括两块相同的等腰梯形棱镜，两块等腰梯形的下底面胶合，相胶合的面为分束面；两块等腰梯形的上底面为反射面；两块等腰梯形棱镜的4个腰面中，其中相邻的两个腰面为干涉仪的两个入射端，另两个腰面为干涉仪的两个出射端。这种干涉成像光谱仪灵敏度高，结构紧凑，易于实现高空间分辨率光路，易于实现宽覆盖成像，双端口的入射和出射面可实现全视场全孔径定标而无需增加辅助光路，并可采用双探测器接收实现谱段的扩展或采用亚像元技术实现超分辨成像，干涉仪棱镜具有易于实现加工和装配的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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