用于振动仪表的仪表传感器的检验

发明专利有效专利

申请号：
CN201480021594.2
IPC分类号：G01N9/00;G01F25/00;G01F1/84;G01N11/16;G01N9/10;G01N11/00;G01N29/30;G01N29/44
申请日期：
2014-04-03
申请人：
高准公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于振动仪表的仪表传感器的检验
申请号	CN201480021594.2	申请日期	2014-04-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-02-17	公开/公告号	CN105339776A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N9/00 测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料	IPC分类号	G;0;1;N;9;/;0;0;;;G;0;1;F;2;5;/;0;0;;;G;0;1;F;1;/;8;4;;;G;0;1;N;1;1;/;1;6;;;G;0;1;N;9;/;1;0;;;G;0;1;N;1;1;/;0;0;;;G;0;1;N;2;9;/;3;0;;;G;0;1;N;2;9;/;4;4查看分类表>
申请人	高准公司	申请人地址	美国科罗拉多州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	高准公司	当前权利人	高准公司
发明人	S.P.H.惠勒
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	申屠伟进;陈岚

摘要

提供了用于检验振动传感器的振动仪表和方法。方法包括使用温度传感器测量多个温度和使用传感器组件测量多个传感器时间周期。确定平均温度和平均传感器时间周期。使用平均温度补偿平均传感器时间周期，从而生成经补偿的传感器时间周期。将经补偿的传感器时间周期与参考传感器时间周期比较。指示结果。在另外的实施例中，将多个温度或多个传感器时间周期的标准偏差与限制比较并且指示传感器稳定性。在另外的实施例中，使用海拔和平均温度补偿流体的所测量的密度与参考密度之间的差异。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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