首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据，仅供参考，实际以国家知识产权局展示为准

一种用于数学吸波暗室构建的多径干扰抑制方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202010564535.7
IPC分类号：G01R1/18
申请日期：
2020-06-19
申请人：
西安电子科技大学;中国电子科技集团公司电子科学研究院

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种用于数学吸波暗室构建的多径干扰抑制方法及装置
申请号	CN202010564535.7	申请日期	2020-06-19
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-02	公开/公告号	CN111735996A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/18 防电场或磁场的屏蔽装置，例如防地磁场的	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;1;8查看分类表>
申请人	西安电子科技大学;中国电子科技集团公司电子科学研究院	申请人地址	陕西省西安市太白南路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学,中国电子科技集团公司电子科学研究院	当前权利人	西安电子科技大学,中国电子科技集团公司电子科学研究院
发明人	张帅;吕政良;苏尧;龚书喜;唐晓斌;周肖;宋子璇
代理机构	工业和信息化部电子专利中心	代理人	于金平

摘要

本发明公开了一种用于数学吸波暗室构建的多径干扰抑制方法及装置，本发明是基于空间位置场源贡献分离理论的多径干扰抑制，为实现无吸波材料环境下电磁辐射的高精度测量提供核心算法，并且本发明借助场源贡献分离理论，可在不改变现有测试设备的条件下，消除外部测试环境不理想引起的多径效应影响，从而提高了电磁测量场测试精度。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供