光致等离子体温度空间分布的探测装置及探测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810143472.7
IPC分类号：G01K11/32;G02B6/06
申请日期：
2008-10-31
申请人：
湖南大学

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著录项信息

专利名称	光致等离子体温度空间分布的探测装置及探测方法
申请号	CN200810143472.7	申请日期	2008-10-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-03-18	公开/公告号	CN101387559
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01K11/32 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01K 温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件（辐射高温测定法入G01J 5/00） G01K11/00 不包括在G01K 3/00，G01K 5/00，G01K 7/00或G01K 9/00各组的以物理或化学变化为基础的温度测量 G01K11/32 利用在光纤中的透射、散射或荧光的变化〔6〕	IPC分类号	G;0;1;K;1;1;/;3;2;;;G;0;2;B;6;/;0;6查看分类表>
申请人	湖南大学	申请人地址	湖南省长沙市麓山南路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖南大学	当前权利人	湖南大学
发明人	陈根余;张屹;赵智;张均
代理机构	长沙正奇专利事务所有限责任公司	代理人	马强

摘要

本发明涉及光致等离子体温度空间分布的探测装置及其方法。将一种多束单根光纤作为探测和传输介质，采用二维位移台精确定位后，多束一排单根光纤同时采集并输出光致等离子体某一截面的光谱，光谱仪记录下采集到的信号；将记录下的光谱信号经过逆变换算法拟合出光强曲线，通过相对光强法计算出某一截面上若干点的温度，得出某一截面的二维温度分布。并且也可通过多束多排光纤同时探测等离子体多个截面，得出三维温度分布。本发明所述光致等离子体温度空间分布的探测装置及其方法所能测得的温度高、准确度高，可用于激光加工在线检测、质量控制及机理研究，并可推广到所有光谱光源的研究。

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