一种现场可编程门阵列的抗辐射性能快速模拟方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910198448.8
IPC分类号：G06F17/50;G01R31/3185
申请日期：
2009-11-06
申请人：
复旦大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种现场可编程门阵列的抗辐射性能快速模拟方法
申请号	CN200910198448.8	申请日期	2009-11-06
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-05-11	公开/公告号	CN102054056A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;5查看分类表>
申请人	复旦大学	申请人地址	上海市邯郸路220号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	复旦大学	当前权利人	复旦大学
发明人	王伶俐;周学功;童家榕;刘智斌;胡光喜
代理机构	上海元一成知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	吴桂琴

摘要

本发明属于电子技术领域，具体涉及一种现场可编程门阵列的抗辐射性能快速模拟方法。该方法提出了一种与具体硬件结构无关、基于权重的错误注入模型，用于准确模拟基于SRAM的FPGA抗辐射性能；同时提出了基于JTAG边界扫描技术和动态局部重配置技术的错误注入模拟平台。结合二者的错误注入系统不但具有良好的通用性，而且能更准确更高效地进行模拟，同时成本更低。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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