一种锥束CT系统几何参数校正模型及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610428637.X
IPC分类号：A61B6/03
申请日期：
2016-06-15
申请人：
重庆大学

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著录项信息

专利名称	一种锥束CT系统几何参数校正模型及方法
申请号	CN201610428637.X	申请日期	2016-06-15
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2016-10-12	公开/公告号	CN105997126A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B6/03 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B6/00 用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的（应用在核医疗学方面的测量辐射强度的仪器，如在体内计数的入G01T1/161；用于X光摄影的设备入G03B42/02） A61B6/02 依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的 A61B6/03 用电子计算机处理的层析X射线摄影机（回波层析X射线摄影法入A61B8/14）〔4〕	IPC分类号	A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人	重庆大学	申请人地址	重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆大学	当前权利人	重庆大学
发明人	王珏;蔡玉芳;向前;胡传晒;葛敏雪
代理机构	北京同恒源知识产权代理有限公司	代理人	赵荣之

摘要

本发明公开了锥束CT系统几何参数校正方法，包括以下步骤：采集一个投影角度下定标模型的投影数据；根据模型投影数据确定每条线状目标的中线方程，然后求出中线交点位置，进而求出四条线状目标在探测器上投影构成的四边形的边长。利用左边与右边之比求解φ，上边与下边之比求解θ，根据任意一条投影四边形的边长可以计算出ΔD。利用φ、θ，以及定标模板上两条相邻直线交点在存在φ、θ和沿X轴方向偏移了ΔD的探测器平面上的投影坐标，求解η,Δu,Δv。求得几何参数后，进行带参数FDK重建，得到校正之后的重建图像。本发明在四点模型的基础上进行改进，提出了线框模型，该模型既保留了四点模型通过一次投影求出6个几何参数，运算量小的优点，又相较于点状模型提高了抗噪性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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