光学成像测距仪

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专利名称	光学成像测距仪
申请号	CN200520096713.9	申请日期	2005-06-08
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01C3/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01C 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学（液体水平面的测量入G01F；无线电导航，通过利用无线电波的传播效应，例如多普勒效应，传播时间来测定距离或速度，利用其他波的类似装置入G01S） G01C3/00 视距测量；光学测距仪（测量长度的卷尺、测链或测轮入G01B 3/00；有源三角测量系统，即使用除了无线电波之外的电磁波的发射和反射入G01S 17/48）〔1，8〕	IPC分类号	G;0;1;C;3;/;0;0查看分类表>
申请人	杨玠	申请人地址	湖北省武汉市吴家山中学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杨玠	当前权利人	杨玠
发明人	杨玠
代理机构	武汉金堂专利事务所	代理人	胡清堂

摘要

一种光学成像测距仪，包括：支架3，还有支架3上的支点和丝杆8相连，丝杆8和成像组件的可伸缩光学成像筒1的外筒上的螺母4相连，丝杆8的一头和齿轮组件的齿轮9相连。其优点是：利用光学成像原理，对中等距的测量可以直读出物距值，既简便、又快速。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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