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一种半自动X射线晶面指数标定和晶胞常数计算的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510047131.6
IPC分类号：G01N23/207;G06F19/00
申请日期：
2005-09-02
申请人：
中国科学院金属研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种半自动X射线晶面指数标定和晶胞常数计算的方法
申请号	CN200510047131.6	申请日期	2005-09-02
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-02-08	公开/公告号	CN1731162
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/207 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/207 衍射，例如，利用处于中心位置的一个探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器〔2，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;7;;;G;0;6;F;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院金属研究所	申请人地址	辽宁省沈阳市沈河区文化路72号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院金属研究所	当前权利人	中国科学院金属研究所
发明人	程宏辉;陈德敏;杨柯
代理机构	沈阳科苑专利商标代理有限公司	代理人	张志伟

摘要

本发明涉及X射线晶面指数标定方法和晶胞常数计算方法。依据LaNi5基贮氢材料具有与LaNi5在X射线谱上相同的峰形的基本原理编制了计算机半自动标定程序实现晶面标定，同时利用该晶面标定结果采用最小二乘法编制了晶胞常数精确计算程序，采用本发明可以进行LaNi5基贮氢材料X射线衍射谱的晶面指数标定和晶胞常数的精确计算。

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