高分辨率快速测量的地物光纤光谱测试仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201620141908.9
IPC分类号：G01J3/36
申请日期：
2016-02-22
申请人：
深圳欧谱申光电科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	高分辨率快速测量的地物光纤光谱测试仪
申请号	CN201620141908.9	申请日期	2016-02-22
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/36 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/30 直接从光谱本身测量谱线强度（G01J 3/42，G01J 3/44优先） G01J3/36 利用分开的检测器测试两个或更多的谱带	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;3;6查看分类表>
申请人	深圳欧谱申光电科技有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区西乡银田路宝安智谷D座501室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳欧谱申光电科技有限公司	当前权利人	深圳欧谱申光电科技有限公司
发明人	蒋二龙;周稳稳
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种高分辨率快速测量的地物光纤光谱测试仪，包含：箱体，具有暗室以密封和收容光学元件；光纤分光器，接收被测物反射的光线并分为可见光和近红外光；入射狭缝，设置于所述箱体上以供可见光和近红外光进入；两个光谱分析仪，用于分析可见光和近红外光的光谱；其中，所有的光学元件都是固定在箱体内部，在使用过程中不会出现松动。通过本技术，提高了测量精度、稳定性和抗震性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供