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消影增透透明导电薄膜

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510255236.4
  • IPC分类号:G06F3/044
  • 申请日期:
    2015-05-19
  • 申请人:
    蚌埠玻璃工业设计研究院;中国建筑材料科学研究总院
著录项信息
专利名称消影增透透明导电薄膜
申请号CN201510255236.4申请日期2015-05-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-08-12公开/公告号CN104834424A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F3/044IPC分类号G;0;6;F;3;/;0;4;4查看分类表>
申请人蚌埠玻璃工业设计研究院;中国建筑材料科学研究总院申请人地址
安徽省蚌埠市禹会区涂山路1047号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人蚌埠玻璃工业设计研究院,中国建筑材料科学研究总院当前权利人蚌埠玻璃工业设计研究院,中国建筑材料科学研究总院
发明人孟政;刘静;汪洪
代理机构安徽省蚌埠博源专利商标事务所代理人杨晋弘
摘要
本发明公开消影增透透明导电薄膜,包括基板,基板的顶面依次往上设有上氮氧化硅膜层与上SiO2膜层,上氮氧化硅膜层与上SiO2膜层构成一组上复合膜层,基板顶面至少设置一组上复合膜层;基板的底面依次往下设有下氮氧化硅膜层与下SiO2膜层,下氮氧化硅膜层与下SiO2膜层构成一组下复合膜层,基板底面至少设置一组下复合膜层;上复合膜层和/或下复合膜层的外膜面设有ITO层;所述氮氧化硅的分子式为SiNxOy,其中x、y分别为氮、氧的摩尔数,1≤x≤4/3,0≤y≤1/3,x/y≥3;氮氧化硅膜层与SiO2膜层通过光学干涉相消原理使得ITO层受蚀刻与未受蚀刻区域在D65光源条件下色值相近,且均呈中性,降低膜层厚度对膜系颜色变化的影响,使得消影效果更容易控制,并降低了生产成本。

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