测微量具微分筒上棱边高度检定仪

实用新型专利有效专利

申请号：
CN85201876
IPC分类号：--
申请日期：
1985-05-23
申请人：
安立平

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测微量具微分筒上棱边高度检定仪
申请号	CN85201876	申请日期	1985-05-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	安立平	申请人地址	天津市河东区王庄子大街83号(新69号) 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安立平	当前权利人	安立平
发明人	安立平
代理机构	天津市专利事务所	代理人	周永铨

摘要

测微量具微分筒上棱边高度检测仪，属于测距仪表。它是由一个千分表，一个上部可固定千分表的、下部有一个倒置的V形槽的主体和一个楔形体的、可与千分表顶杆相接的触头构成的。由于V形槽的两个面可与被测具的圆柱母线呈密接触，而且由这两母线构成的平面垂直于顶杆中心线；楔形体的触头下部端棱线和顶杆中心线垂直，而且楔形触头的一个面和主体上靠近触头一端的平面是处于同一平面的故能正确测量套管表面至锥面棱边上边缘的距离。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供