板料刻痕特征无损高精密测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201210183606.4
IPC分类号：G01B11/06;G01B11/24;G01B11/22
申请日期：
2012-06-05
申请人：
上海航天设备制造总厂

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	板料刻痕特征无损高精密测量装置
申请号	CN201210183606.4	申请日期	2012-06-05
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-12-18	公开/公告号	CN103453838A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先） G01B11/06 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;6;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人	上海航天设备制造总厂	申请人地址	上海市闵行区华宁路100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海航天设备制造总厂	当前权利人	上海航天设备制造总厂
发明人	陈长江;杨国舜;郭立杰;尤登飞;陆彬;陈军
代理机构	上海汉声知识产权代理有限公司	代理人	郭国中

摘要

本发明涉及一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，包括：支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架，第一传感器通过二维滑台连接至支架侧面框架上；导轨与支架的底面框架连接，单向滑台通过滑块和锁扣与导轨连接，转台组件与单向滑台连接；第二传感器通过托架与支架连接，且设置在单向滑台下方。本发明具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供