提高光性能监测仪波长分辨率的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN02115661.1
IPC分类号：--
申请日期：
2002-03-29
申请人：
武汉光迅科技有限责任公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	提高光性能监测仪波长分辨率的方法
申请号	CN02115661.1	申请日期	2002-03-29
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2002-10-09	公开/公告号	CN1373350
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	武汉光迅科技有限责任公司	申请人地址	湖北省武汉市洪山区邮科院路88号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉光迅科技股份有限公司	当前权利人	武汉光迅科技股份有限公司
发明人	胡强高;陈晓虎;马琨;肖清明
代理机构	武汉开元专利代理有限责任公司	代理人	刘志菊

摘要

本发明提供一种提高光性能监控仪波长分辨率的方法，通过输入端口输入光信号，通过分光元件组将光信号的光谱空间分布在阵列探测平面上，通过数据处理部分对测量数据进行分析和处理，其特征是将光信号空间分布的光谱在探测平面上依次平移一段距离，使同一像素能测量不同的波长值。具体可以是光输入端口采用具有路选功能的光开关，通过控制相邻光信号输入端口的夹角，来控制输入光信号的整个光谱在探测平面上平移一段距离，还可通过等间隔的转动分光元件组中的光栅的角度、等间隔的移动阵列探测器、等间隔的改变入射角的方向等方式实现。平移的距离是象素线宽的N分之一。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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