用于测量熔融物质中的参数的测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201210044486.X
IPC分类号：G01J5/02;B22D2/00
申请日期：
2012-02-23
申请人：
贺利氏电子耐特国际股份公司

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著录项信息

专利名称	用于测量熔融物质中的参数的测量装置
申请号	CN201210044486.X	申请日期	2012-02-23
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2012-08-29	公开/公告号	CN102650550A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法 G01J5/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;0;2;;;B;2;2;D;2;/;0;0查看分类表>
申请人	贺利氏电子耐特国际股份公司	申请人地址	比利时豪塔伦市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	贺利氏电子耐特国际股份公司	当前权利人	贺利氏电子耐特国际股份公司
发明人	J·屈佩尔;M·施特雷特曼斯;V·因德赫伯格;M·霍布雷格斯
代理机构	北京天昊联合知识产权代理有限公司	代理人	顾红霞;段斌

摘要

本发明涉及一种用于测量熔融物质中的参数的测量装置，该测量装置尤其用于测量温度，尤其用于测量具有500℃以上的熔点的熔融金属或者熔融晶体(冰晶石)物质中的温度，所述装置具有从熔融物质中接收辐射的光纤并具有包括用于接纳所述光纤的外周部和由所述外周部所包围的内部空间在内的线缆卷筒，其特征在于，在所述内部空间中设置有用于所述光纤的配线器和波模滤波器。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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