一种MEMS电容式陀螺仪敏感结构品质因数Q值的获取方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910821040.5
IPC分类号：G01C25/00
申请日期：
2019-09-02
申请人：
北京博达微科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种MEMS电容式陀螺仪敏感结构品质因数Q值的获取方法
申请号	CN201910821040.5	申请日期	2019-09-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-10	公开/公告号	CN110553666A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01C25/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01C 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学（液体水平面的测量入G01F；无线电导航，通过利用无线电波的传播效应，例如多普勒效应，传播时间来测定距离或速度，利用其他波的类似装置入G01S） G01C25/00 有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理（罗盘的检验、校准或补偿入G01C 17/38）	IPC分类号	G;0;1;C;2;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京博达微科技有限公司	申请人地址	北京市顺义区仁和镇澜西园三区37号楼1层109室（科技创新功能区）变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京博达微科技有限公司	当前权利人	北京博达微科技有限公司
发明人	李淼;赵建颖;李严峰;杨宇生
代理机构	北京国林贸知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种MEMS电容式陀螺仪敏感结构品质因数Q值的获取方法，设定一个采样时间阈值长度，采样时间阈值长度大于设定时间长度，计算输出信号衰减时间常数第一步以所述设定时间长度结束为起点对顺序获得的采样点信号幅值进行判断获得衰减过程连续有效点，直至达到采样时间阈值长度后结束、获得有效点的集合，第二步建立时间常数计算坐标，将采样点信号幅值数组作为纵坐标赋值衰减过程连续有效点集合，将采样时间间隔数组作为横坐标，做有效点集合线性回归，并由此计算出时间常数。通过对数据的过滤避免传统方式对整个包络线全部数据的处理，减少了数据的处理量，提高了测试效率，解决大数据量计算慢和一致性度不够高的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供