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专利名称 | 基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置及工作方法 |
申请号 | CN201510839526.3 | 申请日期 | 2015-11-27 |
法律状态 | 授权 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2016-02-24 | 公开/公告号 | CN105352916A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01N21/47 | IPC分类号 | G;0;1;N;2;1;/;4;7;;;G;0;1;N;2;1;/;9;5查看分类表>
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申请人 | 江苏理工学院 | 申请人地址 | 江苏省常州市钟楼区中吴大道1801号
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专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 江苏理工学院 | 当前权利人 | 江苏理工学院 |
发明人 | 王健;吉庭婷;范真;徐旭松;李京;张伟 |
代理机构 | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张建纲 |
摘要
本发明公开了一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置及工作方法,细纱机罗拉表面质量检测装置包括:罗拉转动驱动装置,罗拉转动驱动装置驱动待检测罗拉在检测位置上转动;激光照射元件,激光照射元件用于将其产生的激光照射至待检测罗拉上,使待检测罗拉产生衍射图像信号;衍射图像接收器件,衍射图像接收器件用于接收待检测罗拉产生的衍射图像信号并将所述衍射图像信号转换为脉冲电信号;信号处理模块,信号处理模块的信号输入端与衍射图像接收器件的信号输出端相连,信号处理模块用于接收衍射图像接收器件所传递的脉冲电信号,并对该脉冲电信号进行处理分析,从而判断待检测罗拉的质量情况。本发明可以自动检测细纱机罗拉表面的质量,并且提高了检测结果的准确性。
1.一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于,它包括:
罗拉转动驱动装置,所述罗拉转动驱动装置驱动待检测罗拉(3)在检测位置上转动;
激光照射元件,所述激光照射元件设置在检测位置的上方,并且所述激光照射元件用于将其产生的激光照射至待检测罗拉(3)上,使待检测罗拉(3)产生衍射图像信号;
衍射图像接收器件(6),所述衍射图像接收器件(6)设置在检测位置的下方,并且所述衍射图像接收器件(6)用于接收待检测罗拉(3)产生的衍射图像信号并将所述衍射图像信号转换为脉冲电信号;
信号处理模块,所述信号处理模块的信号输入端与衍射图像接收器件(6)的信号输出端相连,所述信号处理模块用于接收衍射图像接收器件(6)所传递的脉冲电信号,并对该脉冲电信号进行处理分析,从而判断待检测罗拉(3)的质量情况;
所述罗拉转动驱动装置包括挡块(2)以及用于承载待检测罗拉(3)、呈倾斜状并且输送方向为自下而上运动的倍速链(1),挡块(2)设置在检测位置处,所述待检测罗拉(3)从开始位置在倍速链(1)上自上而下运动,当待检测罗拉(3)运动至被挡块(2)挡住使其位于检测位置时,所述待检测罗拉(3)在倍速链(1)和挡块(2)的作用下在检测位置做自转运动。
2.根据权利要求1所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于:
所述激光照射元件包括激光器(4)和成像透镜(5),激光器(4)产生的激光经过成像透镜(5)后照射至检测位置上的待检测罗拉(3)上。
3.根据权利要求2所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于:
所述激光器(4)为He—Ne激光器。
4.根据权利要求1所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于:
所述衍射图像接收器件(6)为光敏列阵器件。
5.根据权利要求1所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于:
所述信号处理模块包括信号采集器、二值化处理器和信号处理器,信号采集器的信号输入端与衍射图像接收器件的信号输出端相连,信号采集器的信号输出端与二值化处理器的信号输入端相连,所述二值化处理器的信号输出端与信号处理器的信号输入端相连,所述信号采集器接收衍射图像接收器件(6)所传递的脉冲电信号后经过二值化处理器进行二值化处理,然后传送至信号处理器进行信号处理分析,从而判断待检测罗拉(3)的质量情况。
6.根据权利要求5所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于:
所述信号处理器为ARM处理器。
7.根据权利要求5或6所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于:还包括计算机,所述信号处理器的信号输出端与计算机相连。
8.根据权利要求1所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,其特征在于:
所述倍速链(1)上设置有罗拉滑动轨道槽,待检测罗拉(3)至于该罗拉滑动轨道槽内做直线下滑运动。
9.一种如权利要求1至8中任一项所述的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置的工作方法,其特征在于该方法的步骤如下:
(a)倍速链(1)倾斜一定角度,并且倍速链(1)的输送方向为自下而上输送,同时待检测罗拉(3)在倍速链(1)由上自下滚下;
(b)当待检测罗拉(3)被挡块(2)挡下使待检测罗拉(3)位于检测位置时,待检测罗拉(3)做自转运动;
(c)开启激光照射元件,激光照射元件将其产生的激光照射至待检测罗拉(3)上,使待检测罗拉(3)产生衍射图像信号;
(d)衍射图像接收器件(6)对衍射图像信号进行接收,并将衍射图像信号转换成脉冲电信号,然后信号处理模块接收衍射图像接收器件(6)所传递的脉冲电信号,信号处理模块并对该脉冲电信号进行处理分析,从而判断待检测罗拉(3)的质量情况;
(e)当待检测罗拉(3)满足质量要求时,挡块(2)摆动移开,则待检测罗拉(3)继续向下运动,当待检测罗拉(3)不满足质量要求时,则被剔除。
基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置及工作方法\n技术领域\n[0001] 本发明涉及一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置及工作方法。\n背景技术\n[0002] 目前,罗拉是细纱机牵伸机构的重要组成部件,在罗拉生产过程中,常常出现罗拉齿形不完整、存在毛刺、齿牙粗糙度不满足要求等状况,造成飞花和毛羽增多,影响成纱条干等纱疵,而在罗拉质量检测中,自动化生产程度低,检测结果不精确。\n发明内容\n[0003] 本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置及工作方法,它可以自动检测细纱机罗拉表面的质量,并且提高了检测结果的准确性。\n[0004] 为了解决以上技术问题,本发明的技术方案是:一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,它包括:\n[0005] 罗拉转动驱动装置,所述罗拉转动驱动装置驱动待检测罗拉在检测位置上转动;\n[0006] 激光照射元件,所述激光照射元件设置在检测位置的上方,并且所述激光照射元件用于将其产生的激光照射至待检测罗拉上,使待检测罗拉产生衍射图像信号;\n[0007] 衍射图像接收器件,所述衍射图像接收器件设置在检测位置的下方,并且所述衍射图像接收器件用于接收待检测罗拉产生的衍射图像信号并将所述衍射图像信号转换为脉冲电信号;\n[0008] 信号处理模块,所述信号处理模块的信号输入端与衍射图像接收器件的信号输出端相连,所述信号处理模块用于接收衍射图像接收器件所传递的脉冲电信号,并对该脉冲电信号进行处理分析,从而判断待检测罗拉的质量情况。\n[0009] 进一步,所述激光照射元件包括激光器和成像透镜,激光器产生的激光经过成像透镜后照射至检测位置上的待检测罗拉上。\n[0010] 进一步,所述激光器为He—Ne激光器。\n[0011] 进一步,所述衍射图像接收器件为光敏列阵器件。\n[0012] 进一步,所述信号处理模块包括信号采集器、二值化处理器和信号处理器,信号采集器的信号输入端与衍射图像接收器件的信号输出端相连,信号采集器的信号输出端与二值化处理器的信号输入端相连,所述二值化处理器的信号输出端与信号处理器的信号输入端相连,所述信号采集器接收衍射图像接收器件所传递的脉冲电信号后经过二值化处理器进行二值化处理,然后传送至信号处理器进行信号处理分析,从而判断待检测罗拉的质量情况。\n[0013] 进一步,所述信号处理器为ARM处理器。\n[0014] 进一步,基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置还包括计算机,所述信号处理器的信号输出端与计算机相连。\n[0015] 进一步,所述罗拉转动驱动装置包括挡块以及用于承载待检测罗拉、呈倾斜状并且输送方向为自下而上运动的倍速链,挡块设置在检测位置处,所述待检测罗拉从开始位置在倍速链上自上而下运动,当待检测罗拉运动至被挡块挡住使其位于检测位置时,所述待检测罗拉在倍速链和挡块的作用下在检测位置做自转运动。\n[0016] 进一步,所述倍速链上设置有罗拉滑动轨道槽,待检测罗拉至于该罗拉滑动轨道槽内做直线下滑运动。\n[0017] 本发明还提供了一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置的工作方法,该方法的步骤如下:\n[0018] (a)倍速链倾斜一定角度,并且倍速链的输送方向为自下而上输送,同时待检测罗拉在倍速链由上自下滚下;\n[0019] (b)当待检测罗拉被挡块挡下使待检测罗拉位于检测位置时,待检测罗拉做自转运动;\n[0020] (c)开启激光照射元件,激光照射元件将其产生的激光照射至待检测罗拉上,使待检测罗拉产生衍射图像信号;\n[0021] (d)衍射图像接收器件对衍射图像信号进行接收,并将衍射图像信号转换成脉冲电信号,然后信号处理模块接收衍射图像接收器件所传递的脉冲电信号,信号处理模块并对该脉冲电信号进行处理分析,从而判断待检测罗拉的质量情况;\n[0022] (e)当待检测罗拉满足质量要求时,挡块摆动移开,则待检测罗拉继续向下运动,当待检测罗拉不满足质量要求时,则被剔除。\n[0023] 采用了上述技术方案后,本发明可以实现非接触的在线自动检测细纱机罗拉的表面质量,自动化程度高;待检测罗拉在挡块处自转,光敏列阵器件进行衍射图像的连续接收,检测结果更加全面,检测精度高。\n附图说明\n[0024] 图1为本发明的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置的结构示意图;\n[0025] 图2为本发明的基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置的原理框图。\n具体实施方式\n[0026] 为了使本发明的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本发明作进一步详细的说明。\n[0027] 如图1、2所示,一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置,它包括:\n[0028] 罗拉转动驱动装置,所述罗拉转动驱动装置驱动待检测罗拉3在检测位置上转动;\n[0029] 激光照射元件,所述激光照射元件设置在检测位置的上方,并且所述激光照射元件用于将其产生的激光照射至待检测罗拉3上,使待检测罗拉3产生衍射图像信号;\n[0030] 衍射图像接收器件6,所述衍射图像接收器件6设置在检测位置的下方,并且所述衍射图像接收器件6用于接收待检测罗拉3产生的衍射图像信号并将所述衍射图像信号转换为脉冲电信号;\n[0031] 信号处理模块,所述信号处理模块的信号输入端与衍射图像接收器件6的信号输出端相连,所述信号处理模块用于接收衍射图像接收器件6所传递的脉冲电信号,并对该脉冲电信号进行处理分析,从而判断待检测罗拉3的质量情况。\n[0032] 如图1所示,所述激光照射元件包括激光器4和成像透镜5,激光器4产生的激光经过成像透镜5后照射至检测位置上的待检测罗拉3上。\n[0033] 所述激光器4为He—Ne激光器,但不限于此。\n[0034] 所述衍射图像接收器件6为光敏列阵器件,但不限于此。\n[0035] 如图2所示, 所述信号处理模块包括信号采集器、二值化处理器和信号处理器,信号采集器的信号输入端与衍射图像接收器件的信号输出端相连,信号采集器的信号输出端与二值化处理器的信号输入端相连,所述二值化处理器的信号输出端与信号处理器的信号输入端相连,所述信号采集器接收衍射图像接收器件6所传递的脉冲电信号后经过二值化处理器进行二值化处理,然后传送至信号处理器进行信号处理分析,从而判断待检测罗拉3的质量情况。\n[0036] 所述信号处理器为ARM处理器,但不限于此。\n[0037] 如图2所示,基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置还包括计算机,所述信号处理器的信号输出端与计算机相连。\n[0038] 如图1所示,所述罗拉转动驱动装置包括挡块2以及用于承载待检测罗拉3、呈倾斜状并且输送方向为自下而上运动的倍速链1,挡块2设置在检测位置处,所述待检测罗拉3从开始位置在倍速链1上自上而下运动,当待检测罗拉3运动至被挡块2挡住使其位于检测位置时,所述待检测罗拉3在倍速链1和挡块2的作用下在检测位置做自转运动。\n[0039] 所述倍速链1上设置有罗拉滑动轨道槽,待检测罗拉3至于该罗拉滑动轨道槽内做直线下滑运动,从而使待检测罗拉3不会发生偏转,堵塞等现象;\n[0040] 一种基于激光衍射的细纱机罗拉表面质量检测装置的工作方法,该方法的步骤如下:\n[0041] (a)倍速链1倾斜一定角度,并且倍速链1的输送方向为自下而上输送,同时待检测罗拉3在倍速链1由上自下滚下;\n[0042] (b)当待检测罗拉3被挡块2挡下使待检测罗拉3位于检测位置时,待检测罗拉3做自转运动;\n[0043] (c)开启激光照射元件,激光照射元件将其产生的激光照射至待检测罗拉3上,使待检测罗拉3产生衍射图像信号;\n[0044] (d)衍射图像接收器件6对衍射图像信号进行接收,并将衍射图像信号转换成脉冲电信号,然后信号处理模块接收衍射图像接收器件6所传递的脉冲电信号,信号处理模块并对该脉冲电信号进行处理分析,从而判断待检测罗拉3的质量情况;判断罗拉齿形是否完整、是否存在毛刺、齿牙粗糙度是否满足要求;\n[0045] (e)当待检测罗拉3满足质量要求时,挡块2摆动移开,则待检测罗拉3继续向下运动,当待检测罗拉3不满足质量要求时,则被剔除。\n[0046] 所述倍数链1自下向上传动,待检测罗拉3由上自下下滑,两者运动方向相反,待检测罗拉3达到挡块2处,停止下滑,在原地自转,可以产生多角度衍射图像;\n[0047] 所述激光器4经成像透镜5照射到待检测罗拉3上产生的衍射图像为罗拉齿形以及表面粗糙度;\n[0048] 以上所述的具体实施例,对本发明解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
法律信息
- 2018-04-17
- 2016-03-23
实质审查的生效
IPC(主分类): G01N 21/47
专利申请号: 201510839526.3
申请日: 2015.11.27
- 2016-02-24
引用专利(该专利引用了哪些专利)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
1
| | 暂无 |
2013-07-19
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2
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2008-10-08
|
2008-04-23
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3
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2014-10-08
|
2014-07-15
| | |
4
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2015-04-22
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2015-01-29
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被引用专利(该专利被哪些专利引用)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有被任何外部专利所引用! |