一种FPGA逻辑测试结构及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710500759.X
IPC分类号：G01R31/3177
申请日期：
2017-06-27
申请人：
济南浪潮高新科技投资发展有限公司

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专利名称	一种FPGA逻辑测试结构及方法
申请号	CN201710500759.X	申请日期	2017-06-27
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-10-24	公开/公告号	CN107290654A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3177 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3177 逻辑运行的测试，例如用逻辑分析仪〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;7查看分类表>
申请人	济南浪潮高新科技投资发展有限公司	申请人地址	山东省济南市高新区孙村镇科航路2877号研发楼一楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	济南浪潮高新科技投资发展有限公司	当前权利人	济南浪潮高新科技投资发展有限公司
发明人	王子彤;姜凯;聂林川
代理机构	济南信达专利事务所有限公司	代理人	孟峣

摘要

本发明公开了一种FPGA逻辑测试结构及方法，包括FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处理；控制模块，连接所述外部存储模块，并选取存储的待测信号或变量，完成外部读取，判断FPGA模块的内部逻辑运行状态后显示。本发明的一种FPGA逻辑测试结构及方法与现有技术相比，可以方便高效地对待测信号进行跟踪观察，验证FPGA内部逻辑，极大提升项目初期及调试阶段的效率，资源占用低，相对于专用仪器，也可降低开发成本，实用性强，适用范围广泛，易于推广。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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