边界扫描控制器、半导体装置、半导体装置的半导体电路芯片识别方法及其控制方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200480004089.3
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2004-02-10
申请人：
夏普株式会社

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著录项信息

专利名称	边界扫描控制器、半导体装置、半导体装置的半导体电路芯片识别方法及其控制方法
申请号	CN200480004089.3	申请日期	2004-02-10
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-03-15	公开/公告号	CN1748153
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	夏普株式会社	申请人地址	日本大阪市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	夏普株式会社	当前权利人	夏普株式会社
发明人	佐藤知稔
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	浦柏明;叶恺东

摘要

本发明的目的在于提供一种边界扫描控制器，其能进行边界扫描，而且能够将同一类型的半导体电路芯片积层起来构成半导体装置。通过比较单元(88)将存储单元(85)存储的识别数据和固定数据保持单元(87)保持的固定数据进行比较，当这些识别数据和固定数据一致时，能从数据导出部(89)输出与输出部(86)输出的数据相同的数据。在边界扫描测试中，将设置在半导体电路芯片上的边界扫描控制器(80)的数据导出部(89)连接在同一总线上。当识别数据和固定数据不一致时，数据导出部(89)可以处于实质上不与总线连接的状态。由此，能通过将设置有边界扫描控制器(80)的同一类型的半导体电路芯片进行积层，构成半导体装置。

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