曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201220049905.4
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2012-02-16
申请人：
西华大学

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著录项信息

专利名称	曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置
申请号	CN201220049905.4	申请日期	2012-02-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	西华大学	申请人地址	四川省成都市金牛区土桥金周路999号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西华大学	当前权利人	西华大学
发明人	刘建新;谭平
代理机构	成都蓉信三星专利事务所	代理人	马文峰

摘要

本实用新型公开了一种曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置，包括传感器和计算机控制中心，所述传感器为高精度激光位移传感器，传感器通过ARM系统与计算机控制中心电连接，所述计算机控制中心通过驱动系统连接驱动传感器内压电晶体微动工作台。采用本非接触测量装置测量抛光物件的表面，不仅能真实反映抛光物件表面的形态，而且其测量精度也非常高，能圆满实现曲面表面在加工过程中的在线、自动、非接触测量。此外，这种曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置也适用于各种复杂曲面工件表面的工程粗糙度的二维或三维痕迹测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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