基于红外热成像的涂层厚度检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810112679.1
IPC分类号：G01B11/06
申请日期：
2018-02-05
申请人：
电子科技大学

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专利名称	基于红外热成像的涂层厚度检测方法
申请号	CN201810112679.1	申请日期	2018-02-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-08-17	公开/公告号	CN108413882A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先） G01B11/06 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;6查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	白利兵;何棱云;于海超;程玉华;田露露;张睿恒;陈雪
代理机构	成都行之专利代理事务所（普通合伙）	代理人	温利平;陈靓靓

摘要

本发明公开了一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，从中提取出表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，结合对应的涂层厚度拟合得到时间‑涂层厚度曲线，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，从时间‑涂层厚度曲线搜索得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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