采用双路激光位移法的大磁致伸缩材料的测量设备和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810707678.1
IPC分类号：G01B11/02;G01B11/16
申请日期：
2018-07-02
申请人：
中国计量科学研究院

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著录项信息

专利名称	采用双路激光位移法的大磁致伸缩材料的测量设备和方法
申请号	CN201810707678.1	申请日期	2018-07-02
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-11-13	公开/公告号	CN108801154A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	中国计量科学研究院	申请人地址	北京市朝阳区三环东路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量科学研究院	当前权利人	中国计量科学研究院
发明人	侯瑞芬;林安利;贺建;张志高;龚文杰;许志一
代理机构	北京轻创知识产权代理有限公司	代理人	谈杰

摘要

一种采用双路激光位移法的大磁致伸缩材料的测量设备和方法，其中，该测量设备包括：磁轭(1)、第一电磁铁线包(2)、第二电磁铁线包(3)、下极头(4)和上极头(5)；所述磁轭(1)相对的两个内壁由外至内依次设置有所述第一电磁铁线包(2)和所述下极头(4)，以及所述第二电磁铁线包(3)和所述上极头(5)；所述第一电磁铁线包(2)的相对两侧分别设置有一个激光系统，用于分别测量被测样品在两个方向上的伸缩量。上述技术方案解决了无法准确测量被测样品磁致伸缩系数的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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