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用对焦区域中子区域的亮度值进行背光侦测的系统及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200710003606.0
  • IPC分类号:H04N5/243;H04N5/235
  • 申请日期:
    2007-01-18
  • 申请人:
    华晶科技股份有限公司
著录项信息
专利名称用对焦区域中子区域的亮度值进行背光侦测的系统及方法
申请号CN200710003606.0申请日期2007-01-18
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2008-07-23公开/公告号CN101227564
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04N5/243IPC分类号H;0;4;N;5;/;2;4;3;;;H;0;4;N;5;/;2;3;5查看分类表>
申请人华晶科技股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华晶科技股份有限公司当前权利人华晶科技股份有限公司
发明人吴宗达;周宏隆
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司代理人梁挥;祁建国
摘要
一种利用对焦区域中子区域的亮度值进行背光侦测的系统及其方法,应用于图像撷取装置上,将对焦区域切割为多个子区域并计算各子区域的亮度值,而后依据各子区域的亮度值转换为0与1的编码后组合产生用以表示整个对焦区域的编码,经过对比预先建立的背光侦测表来判断各编码所对应代表的状态值,以决定被拍摄的主体是否背光。

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