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一种QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202211118738.9
  • IPC分类号:G01R31/00;G01R1/18;G01R1/02;H04B10/073
  • 申请日期:
    2022-09-14
  • 申请人:
    武汉联特科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法
申请号CN202211118738.9申请日期2022-09-14
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2022-11-11公开/公告号CN115327283A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/00IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;1;8;;;G;0;1;R;1;/;0;2;;;H;0;4;B;1;0;/;0;7;3查看分类表>
申请人武汉联特科技股份有限公司申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳大道52号E地块12栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉联特科技股份有限公司当前权利人武汉联特科技股份有限公司
发明人余忆;李林科;吴天书;杨现文;张健
代理机构合肥兴东知识产权代理有限公司代理人商德平
摘要
本发明公开了一种QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法,QSFP光模块EMI恒温测试系统包括QSFP光模块和电路测试板,还包括屏蔽盒和水冷散热单元;所述电路测试板安装在所述屏蔽盒的内部,所述水冷散热单元包括水冷散热板和水冷散热管,所述温度传感器连接至所述水泵。本发明中,利用QSFP光模块、电路测试板和屏蔽盒模拟光模块在交换机中工作的状况,增设水冷散热单元实现EMI测试过程中屏蔽盒内实时温度的自动调控,结构简单、易于实现,不仅可实现自动快速的温度调节,无需人工调整,更加便捷高效,还可实现对屏蔽盒内测试环境的散热保护,避免影响EMI测试的精确性,维持光模块的正常运行。

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