非均匀温度场下绝对式光栅尺热变形检测装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202111018680.6
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2021-09-01
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	非均匀温度场下绝对式光栅尺热变形检测装置及方法
申请号	CN202111018680.6	申请日期	2021-09-01
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-26	公开/公告号	CN113701658A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	曾文彬;蔡盛;吉日嘎兰图;徐伟;胡海飞;徐晨阳
代理机构	长春众邦菁华知识产权代理有限公司	代理人	朱红玲

摘要

非均匀温度场下绝对式光栅尺热变形检测装置及方法，涉及绝对式光栅尺检测技术领域，解决现有技术采用恒定温度与绝对式光栅尺实际运行的非均匀温度场存在较大差异，使绝对式光栅尺全测量范围热变形检测结果的准确性难以保证的问题，本发明模拟了绝对式光栅尺实际工况中的非均匀温度场，并对绝对式光栅尺全测量范围热变形进行检测，用于探索实际工况中绝对式光栅尺热变形规律，提高绝对式光栅尺测量精度。此外，通过设置合理的加载温度及部位，考虑温度的老化作用，该检测装置还可开展绝对式光栅尺加速寿命试验，用于研究实际工况中绝对式光栅尺性能退化机理。本发明作为绝对式光栅尺全测量范围误差实验室检测装置，结果表明检测精度得到大幅提高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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