一种无接触式低温磁输运测试的样品杆

发明专利无效专利

申请号：
CN201310469928.X
IPC分类号：G01R33/12
申请日期：
2013-10-10
申请人：
中国科学院上海技术物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种无接触式低温磁输运测试的样品杆
申请号	CN201310469928.X	申请日期	2013-10-10
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-01-22	公开/公告号	CN103529407A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/12 测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性（涉及磁共振的入G01R 33/20）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;1;2查看分类表>
申请人	中国科学院上海技术物理研究所	申请人地址	上海市虹口区玉田路500号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海技术物理研究所	当前权利人	中国科学院上海技术物理研究所
发明人	徐勇刚;俞国林;吕蒙;常志刚;林铁;戴宁;褚君浩
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	郭英

摘要

本发明公开了一种无接触式低温磁输运测试的样品杆，它用于深低温强磁场下对固体材料电学性质进行微波测量。样品杆由头顶盒、波导管、引线管、同轴电缆及转接口、测试引线及插座、支架盘片、底部固定架和谐振腔等组成，其主要特征在于同时将波导管和同轴电缆引入样品杆内，波导管将微波导入到可放置样品的谐内腔内，同轴电缆接收反射出来的微波，从而实现对固体材料电学性质的微波测量。波导管和引线管选用高强度、低热导率的钛金属材料，实现了样品温度在极低温下的稳定。该系统为深低温强磁场中固体材料电学性质的微波测量提供了有力的研究工具。

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