专利名称 | 测量设备和测量方法 | ||
申请号 | CN201210226299.3 | 申请日期 | 2012-06-29 |
法律状态 | 暂无 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2014-01-15 | 公开/公告号 | CN103505194A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | A61B5/024 | IPC分类号 | A;6;1;B;5;/;0;2;4;;;A;6;1;B;5;/;1;1查看分类表> |
申请人 | 北京超思电子技术股份有限公司 | 申请人地址 | 北京市石景山区双园路9号2号楼2层、3层、4层410-412室
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 北京超思电子技术有限责任公司 | 当前权利人 | 北京超思电子技术有限责任公司 |
发明人 | 刘树海;王维虎;张燕清;徐永菊 | ||
代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 彭瑞欣;张天舒 |
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
专利权人由北京超思电子技术有限责任公司变更为北京超思电子技术有限责任公司 地址由100143 北京市海淀区玉泉路甲12号4层4104变更为100041 北京市石景山区双园路9号2号楼2层、3层、4层410-412室
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
专利权人由北京超思电子技术股份有限公司变更为北京超思电子技术有限责任公司 地址由100039 北京市海淀区复兴路83号西四楼三层320房变更为100143 北京市海淀区玉泉路甲12号4层4104
授权
实质审查的生效
IPC(主分类): A61B 5/024 专利申请号: 201210226299.3 申请日: 2012.06.29
公开
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有引用任何外部专利数据! |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有被任何外部专利所引用! |
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