一种批量测试样品的下压式探针测试座

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202221159142.9
IPC分类号：G01R1/073
申请日期：
2022-05-13
申请人：
杭州瑞来电子有限公司

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专利名称	一种批量测试样品的下压式探针测试座
申请号	CN202221159142.9	申请日期	2022-05-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/073 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕 G01R1/073 多个探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;7;3查看分类表>
申请人	杭州瑞来电子有限公司	申请人地址	浙江省杭州市余杭区仁和街道永泰路2号13-2 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州瑞来电子有限公司	当前权利人	杭州瑞来电子有限公司
发明人	朱雨帆
代理机构	上海邦德专利代理事务所（普通合伙）	代理人	崔双双

摘要

本实用新型一种批量测试样品的下压式探针测试座，包括底座，底座的上方设有上盖，上盖的一端与底座转动连接，上盖的底部活动连接有压块，底座的内部相对压块的位置设有探针插板，底座的内部且位于探针插板的上方可拆卸连接有器件托盘，本实用新型具有以下优点而本测试座可以一次进行大量器件的测试，同时因为器件置于托盘中的原因，测试人员只需要用镊子或者机械手臂更换托盘便可进行样品替换的工作，提高了测试的效率，降低工作人员的劳动强度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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