测试导电材料结构的电学测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN98126142.6
IPC分类号：--
申请日期：
1998-12-25
申请人：
北京航空材料研究院

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测试导电材料结构的电学测试方法
申请号	CN98126142.6	申请日期	1998-12-25
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	1999-09-15	公开/公告号	CN1228534
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	北京航空材料研究院	申请人地址	变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院	当前权利人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
发明人	益小苏;廖建伟;宋义虎
代理机构	中国航空专利中心	代理人	李建英

摘要

本发明涉及一种在线、原位并且同步的测试导电材料结构与性能的电学测试方法。它是根据材料试样的结构选取适当的方法在试样上做电极，电极可以是面电极也可以是端电极，甚至可以是双面点电极或不对称的一面为面电极而另一面为点电极，两电极上各接一根外覆绝缘层的细导丝，接上电阻测试仪表，在材料力学试验(包括动态、准静态和静态的加载形式)，以及动态机械热分析、量热分析和热失重分析过程中，在线、原位并且同步地测量材料的电阻，间接地了解材料结构的变化。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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