低强度激光动态光散射测量纳米颗粒粒径的方法及其装置

发明专利无效专利

申请号：
CN02134926.6
IPC分类号：--
申请日期：
2002-10-10
申请人：
华南师范大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	低强度激光动态光散射测量纳米颗粒粒径的方法及其装置
申请号	CN02134926.6	申请日期	2002-10-10
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2003-03-19	公开/公告号	CN1403797
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	华南师范大学	申请人地址	广东省广州市天河区石牌变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南师范大学	当前权利人	华南师范大学
发明人	邢达;李绍新
代理机构	广州粤高专利代理有限公司	代理人	何燕玲

摘要

本发明提供一种小型实用、低强度激光的动态光散射测量纳米颗粒粒径的方法和装置，包括：用适当波长的单色激光辐照液体样品产生散射光信号；梯度折射率单模光纤收集、传输散射光信号；单光子计数模块记录散射光子并转换为电脉冲信号输出；自相关器处理单光子计数模块输出信号；一种实现上述方法的装置，包括：光源、起偏器、聚焦透镜、双层折射率样品匹配池、光纤、单光子计数模块、自相关器和计算机；本发明具有低强度激光测量，对样品无干扰、无损伤，能快速、准确测量纳米颗粒粒径，以及装置结构简单紧凑，小型实用，适合于现场监测的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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