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方位角校准方法、装置、存储介质和计算机设备

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710466099.8
  • IPC分类号:G01C17/38
  • 申请日期:
    2017-06-19
  • 申请人:
    深圳市万普拉斯科技有限公司
著录项信息
专利名称方位角校准方法、装置、存储介质和计算机设备
申请号CN201710466099.8申请日期2017-06-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-12-01公开/公告号CN107421523A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C17/38IPC分类号G;0;1;C;1;7;/;3;8查看分类表>
申请人深圳市万普拉斯科技有限公司申请人地址
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市万普拉斯科技有限公司当前权利人深圳市万普拉斯科技有限公司
发明人邱长平
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人何平
摘要
本发明涉及一种方位角校准方法、装置、存储介质和计算机设备。所述方法包括:获取磁传感器检测到的磁场矢量;根据磁场矢量和相应的磁场强度,获取磁场矢量相应的初始方位角;检测当前旋转角速度;根据当前旋转角速度确定补偿角;根据补偿角和初始方位角,进行方位角校准。可以根据获取的磁场矢量和相应的磁场强度,来获取初始方位角,在没有对磁场矢量进行详细分析的情况下,获取精准的初始方位角,提高了获取初始方位角的效率。还可以获取移动终端当前的旋转角速度,获取补偿角,通过补偿角和初始方位角来校准方位角。从而在获取精准的初始方位角后,校准方位角,进而在获取精准的初始方位角效率提高的情况下,提高校准方位角的效率。

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