一种用于多存储芯片测试的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910150254.4
IPC分类号：G11C29/10;G11C29/56
申请日期：
2019-02-28
申请人：
无锡中微腾芯电子有限公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	一种用于多存储芯片测试的方法
申请号	CN201910150254.4	申请日期	2019-02-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-06-21	公开/公告号	CN109920467A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/10 测试算法，例如，存储扫描〔MScan〕算法；测试码形，例如棋盘码形〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;1;0;;;G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	无锡中微腾芯电子有限公司	申请人地址	江苏省无锡市新吴区长江路21号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	无锡中微腾芯电子有限公司	当前权利人	无锡中微腾芯电子有限公司
发明人	奚留华;张凯虹;徐德生;常艳昭;苏洋
代理机构	无锡市大为专利商标事务所（普通合伙）	代理人	殷红梅;陈丽丽

摘要

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开了一种用于多存储芯片测试的方法，其中，所述用于多存储芯片测试的方法包括：根据ATE测试系统建立存储刷新方式；根据所述存储刷新方式，以同一功能码结合多个输入交流参数实现并行输入测试；根据所述存储刷新方式，以同一功能码结合多个输出交流参数实现并行输出测试。本发明提供的用于多存储芯片测试的方法很好地实现了叠层大容量存储器的高效测试，缩减了测试时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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