一种反演沙尘暴光学厚度的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410058395.7
IPC分类号：G01B21/08
申请日期：
2004-08-13
申请人：
赵凤生;李小青;盖长松;高文华

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著录项信息

专利名称	一种反演沙尘暴光学厚度的方法
申请号	CN200410058395.7	申请日期	2004-08-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-03-02	公开/公告号	CN1587907
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕 G01B21/08 用于计量厚度〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;8查看分类表>
申请人	赵凤生;李小青;盖长松;高文华	申请人地址	北京市中关村南大街46号国家卫星气象中心变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	赵凤生,李小青,盖长松,高文华	当前权利人	赵凤生,李小青,盖长松,高文华
发明人	赵凤生;李小青;盖长松;高文华
代理机构	北京北新智诚知识产权代理有限公司	代理人	朱丽华

摘要

本发明公开了一种反演沙尘暴光学厚度的方法，其方法步骤如下：1)首先利用太阳辐射总表观测得到的辐射通量密度数据和观测时间以及观测地点；2)计算出与观测数据相对应的太阳天顶角；3)计算出不同沙尘粒子光学厚度对应的太阳辐射通量密度理论计算值与观测值的偏差；4)确定与最小偏差值对应的光学厚度；最后取各个太阳辐射观测站内同时观测后确定的光学厚度数据绘制反演沙尘暴光学厚度图。本发明结果可靠性高，适用性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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