在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列发明专利
申请号：CN02801357.3
LOC分类号:G01R31/28
IPC结构图谱：
- B作业；运输
- B2成型
- B23机床；其他类目中不包括的金属加工
- B23Q机床的零件、部件或附件，如仿形装置或控制装置（在车床或镗床上使用的各类刀具入B23B 27/00）；以特殊零件或部件的结构为特征的通用机床；不针对某一特殊金属加工用途的金属加工机床的组合或联合
- B23Q3/00工件或刀具的夹固，支承，定位装置，一般可从机床上拆下的（工作台或其他部件，如花盘，一般不带装卡工件的装置入B23Q 1/00；自动定位控制入B23Q 15/00；车床用旋转刀架入B23B 3/24，B23B 3/26；非传动式刀夹入B23B 29/00；转塔刀架一般特征入B23B 29/24；用于紧固、连接、拆卸或夹持的工具或台式设备入B25B）
