在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列

发明专利无效专利

申请号：
CN02801357.3
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2002-04-19
申请人：
株式会社鼎新

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法律信息

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著录项信息

专利名称	在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列
申请号	CN02801357.3	申请日期	2002-04-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2003-12-17	公开/公告号	CN1462370
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	株式会社鼎新	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社鼎新	当前权利人	株式会社鼎新
发明人	利昂·李·申;詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	韩宏

摘要

一种半导体测试系统，可以使用通用操作系统产生时间临界顺序，包括一个用于将电源和测试图提供给被测器件的测试仪硬件，一个由通用操作系统操纵的主机计算机，一个用于根据一个测试程序计算配置数据和定时数据的配置软件，一个用于给测试硬件提供电源触发器和信号触发器的的装置驱动器，以及一个用于产生中断信号的硬件定时器。装置驱动器启动测试图并在接收到中断信号时去激活电源。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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