接触探针

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专利名称	接触探针
申请号	CN202080030449.6	申请日期	2020-03-24
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-30	公开/公告号	CN113728238A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/067 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;6;7查看分类表>
申请人	株式会社友华	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社友华	当前权利人	株式会社友华
发明人	佐藤贤一
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	孙明轩

摘要

能够利用于在端子部(81)形成有凹部的半导体封装(80)的检查的、接触探针(10)具有柱塞(10a)，该柱塞具有与所述端子部(81)接触的顶端部(11A)，所述顶端部(11A)具有：朝向所述端子部(81)突出的突出部(12)；和向所述端子部(81)的突出高度比所述突出部(12)低的肩部(13)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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