用于分析塑料的X射线分析仪

发明专利有效专利

申请号：
CN200410085519.0
IPC分类号：G01N23/223
申请日期：
2004-09-03
申请人：
精工电子纳米科技有限公司

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著录项信息

专利名称	用于分析塑料的X射线分析仪
申请号	CN200410085519.0	申请日期	2004-09-03
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2005-06-08	公开/公告号	CN1624463
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	精工电子纳米科技有限公司	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	日本株式会社日立高新技术科学	当前权利人	日本株式会社日立高新技术科学
发明人	长谷川清
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	张雪梅;叶恺东

摘要

本发明的目的在于当分析塑料中的金属浓度时，减少塑料中氯的影响。在X射线分析仪中，包括X射线产生部件，用于将初级X射线照射到样品上，以及X射线探测器，用于检测来自样品的X射线，来自X射线产生部件的初级X射线照射到塑料样品上，由X射线探测器获得来自塑料样品的氯的X射线强度，并且初级X射线被塑料样品散射的散射X射线强度也由X射线探测器获取。提供氯的X射线强度比计算装置，用于将氯的X射线强度除以散射的X射线强度以计算氯的X射线强度比。计算出的氯的X射线强度比和塑料样品中氯的浓度正相关。提供相对氯浓度计算装置，用于从氯的X射线强度比中计算塑料样品中的相对氯浓度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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