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降低阵列电性测试机静电产生的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910781320.8
IPC分类号：G01N21/958;H05F3/06
申请日期：
2019-08-23
申请人：
深圳市华星光电技术有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	降低阵列电性测试机静电产生的方法
申请号	CN201910781320.8	申请日期	2019-08-23
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-20	公开/公告号	CN110596147A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/958 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/958 检测透明材料〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;8;;;H;0;5;F;3;/;0;6查看分类表>
申请人	深圳市华星光电技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	TCL华星光电技术有限公司	当前权利人	TCL华星光电技术有限公司
发明人	张文泽
代理机构	深圳翼盛智成知识产权事务所（普通合伙）	代理人	黄威

摘要

本发明公开了一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，所述方法包括：设置支架的上升时间；控制所述支架凸出承载平台；分离玻璃于所述承载平台；移动龙门架于所述玻璃上方；以及控制离子棒吹向所述玻璃。本发明通过增加支架上升时间以及移动龙门架于玻璃上方，使离子棒作用于玻璃的时间增加，从而达到降低静电产生及避免击伤面板的目的。

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