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像素暗态漏光的检测方法及检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201810687178.6
IPC分类号：G02F1/13
申请日期：
2018-06-28
申请人：
深圳市华星光电技术有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	像素暗态漏光的检测方法及检测装置
申请号	CN201810687178.6	申请日期	2018-06-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-11-13	公开/公告号	CN108803097A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02F1/13 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02F 用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器〔2，4〕 G02F1/00 控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学〔2，4〕 G02F1/01 对强度、相位、偏振或颜色的控制（G02F 1/29、G02F 1/35优先）〔2，7〕 G02F1/13 基于液晶的，例如单位液晶显示单元〔2〕	IPC分类号	G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人	深圳市华星光电技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	TCL华星光电技术有限公司	当前权利人	TCL华星光电技术有限公司
发明人	林旭林;陈黎暄
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	郝传鑫;熊永强

摘要

一种像素暗态漏光的检测方法，用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布，包括：拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片；提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素，其中，所述区别元素包括以下一种或多种：漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征；根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。本发明解决了无法确定暗态漏光在一个像素内的空间分布的技术问题。

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